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东莞市协美电子有限公司

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能量分散型荧光X射线元素分析仪 JSX-3400RⅡ
能量分散型荧光X射线元素分析仪 JSX-3400RⅡ图片
能量分散型荧光X射线元素分析仪 JSX-3400RⅡ图片0能量分散型荧光X射线元素分析仪 JSX-3400RⅡ图片1能量分散型荧光X射线元素分析仪 JSX-3400RⅡ图片2
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产 品： 能量分散型荧光X射线元素分析仪 JSX-3400RⅡ 
型 号： JSX-3400RⅡ 
品 牌： 日本电子（JEOL） 
单 价： 面议 
最小起订量：  
供货总量：
发货期限： 自买家付款之日起 30 天内发货
更新日期： 2017-04-25  有效期至：长期有效
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能量分散型荧光X射线元素分析仪 JSX-3400RⅡ详细说明


能量分散型荧光X射线元素分析仪 JSX-3400RⅡ
JSX-3400RⅡ是日本电子株式会社推出的08年新一代高性能能量分散型荧光X射线元素分析仪。该设备具有出众性能指针，不仅能很好对应RoHS指令、ELV指令和其它环境指令相关元素分析，还对卤素Cl高精度测试分析。 能同时达到无卤测试及ROHS测试。
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主要特点

1. 实现高灵敏度*微少成分的分析*短时间测定！
  Ⅰ 采用新光学系统与高分辨率 Si(Li) 型检测器。检测器分辨率保证在149eV以下。(业界
最好的保证分辩率).
Ⅱ 最新开发的针对RoHS用X射线滤波器。减除了X射线管发出的干扰波峰以外，实现了波
峰背景的低减与避免共存元素影响。
2. 内置标配塑料和金属的检量线。用户不需要再做！
  Ⅰ 通过设备的校正功能，配置各种检量线长期使用完全有效。一般的保守也特别简单。
Ⅱ 可针对Cl的检量线，检测极限可达9个PPM，达到无卤测试要求。
3. 简单方便的操作系统
2 Ⅰ 按一键就完成测定!自动保存结果。一键生成报告
4. 材料元素 Monitoring 系统。
  Ⅰ 实现样品形状/厚度/面积和材料性质补正都自动进行。在业界最多补正功能。满足样
品基材多样性需求。
5. 采用300mmφ 大型样品室，自动样品样品仓门。
3 Ⅰ 大样品可以直接放入様品室。自动样品仓门更好密封样品室。
 

其他功能
 

1. 分析結果報告軟體：測試自動保存結果，並可一鍵生成報告。（標配）
  <d><d>JS</d></d>X-3400RII

→

 <d><d>JS</d></d>X-3400RII
2. 鍍錫分析軟體（可選）
  Ⅰ 無鉛焊錫和Sn焊料中的Pb分析非常困難，使用該軟體可以簡單進行非破壞分析，並
進行鍍層厚度修正分析準確。
3. 鍍鎳分析軟體（可選）
23 Ⅰ 非破壞測量無電解Ni鍍層中的Pb,Cd進行鍍層厚度修正分析準確。成功地去除了背底
的影響。
Ⅰ  

技術參數
 

元素範圍 Na11 - U92
解析度 保證149ev 以下(JSX-3400R是目前市面上解析度最佳之桌上型XRF)
X射線管 5-50kV, 1mA, 50W
靶材 Rh靶
濾波機構 4種自動交換(包括Open)
准直器 1mmΦ,3mmΦ, 7mmΦ
探測器 液氮製冷型Si(Li)半導體探測器
液氮 3升（消耗量1升/日以下）僅使用
樣品室尺寸 300 mmΦ x 150mmH
樣品室環境
大氣， 真空（可選）
作業系統 Windows XP，19寸彩色顯示器
主要附件 能量校正樣品/強度校正樣品/檢查樣品
設備電源 單相AC100V±10%，單相AC220V±10%
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